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無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

應(yīng)用范圍：
無論是電鍍廠的簡單的鍍層厚度測量（例如鐵上鍍鋅），還是鍍液分析，復(fù)雜的多鍍層應(yīng)用， 非常復(fù)雜的貴金屬分析或痕量分析（RoHS），一個(gè)軟件程序就可以完成所有的測量應(yīng)用：WinFTM。

儀器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造理想的激勵(lì)條件。

兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

特征

• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
• X射線探測器采用比例接收器
• 準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換
• 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
• 固定樣品支撐臺(tái) ，手動(dòng)XY工作臺(tái)
• 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
• 設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 大批量電鍍件測量
• 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
• 電鍍行業(yè)槽液分析
• 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
• 測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
• 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
• 黃金，珠寶和手表行業(yè)

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