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英國Renishaw雷尼紹

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產(chǎn)品名稱：	Renishaw TP200/TP200B
發(fā)布時間：	2024-09-01
產(chǎn)品品牌：	RENISHAW/英國雷尼紹
產(chǎn)品特點：	Renishaw TP200/TP200B TP200具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應變片機構(gòu)，比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的測量重復性和準確的3D空間形狀測量精度

Renishaw TP200/TP200B的詳細資料：

TP200具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應變片機構(gòu)，比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的測量重復性和準確的3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意，我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。

TP200系統(tǒng)組件包括:
TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
PI 200-3測頭接口
SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（擴展越程），越程測力與SF相同，

但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。

特性與優(yōu)點:
應變片技術具備優(yōu)異的測量重復性和準確的3D空間形狀測量精度
零復位誤差
無各向同性影響
六向測量能力
測針測量距離達100 mm（GF測針）
測頭模塊快速交換，無需重新標定測尖
壽命 >1000萬次觸發(fā)
TP200/TP200B測頭本體

規(guī)格摘要	TP200	TP200B
主要應用	用于需要高精度的數(shù)控坐標測量機。	與TP200一樣，但是用在出現(xiàn)誤觸發(fā)事件的場合。
感應方向	六軸：±X、±Y、±Z	六軸：±X、±Y、±Z
單向重復性 (2s µm)	電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：±0.50 µm	電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：±0.50 µm
XY（2D）侖廓測量偏差	電平觸發(fā)1：0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm	電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm
XYZ (3D) 侖廓測量偏差	電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm	電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm
測針交換的重復性	SCR200：±0.50 µm（大）手動：±1 µm（大）	SCR200：±0.50 µm（大）手動：±1 µm（大）
測力（測尖）	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N
越程測力（位移為0.50 mm時）	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N
重量（測頭傳感器和模塊）	22 g	22 g
長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上）	300 mm	300 mm
推薦的大測針長度（M2測針系列）	SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF	SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF
安裝方式	M8螺紋	M8螺紋
適合的接口	PI 200-3、UCC	PI 200-3、UCC
測針模塊交換架	自動：SCR200 手動：MSR1	自動：SCR200 手動：MSR1
測針系列	M2	M2